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摘要:
描述了改善静电感应晶体管(SIT)大电流特性的新方法. 首次定义了从不同角度表征SIT电特性的重要因子,如单位沟道宽度跨导、栅效率、灵敏度因子和本征静电增益. 从理论和工艺实践上研究了这些因子与几何结构之间的关系,揭示了器件电性能对几何结构和工艺参数的依赖关系. 设计建立了SIT频率参数和功率参数测试方法和电路,深入讨论了封装工艺对SIT电性能的影响.
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文献信息
篇名 静电感应晶体管大电流特性的改善
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 静电感应晶体管 栅效率 本征静电增益 灵敏度因子
年,卷(期) 2007,(8) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1192-1197
页数 6页 分类号 TN386.6
字数 903字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.08.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王永顺 兰州交通大学电子与信息工程学院 35 128 7.0 9.0
2 吴蓉 兰州交通大学电子与信息工程学院 31 88 6.0 7.0
3 刘春娟 兰州交通大学电子与信息工程学院 24 109 6.0 10.0
4 李思渊 兰州交通大学电子与信息工程学院 1 7 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
静电感应晶体管
栅效率
本征静电增益
灵敏度因子
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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