边界扫描测试电路的设计

• 作者: 刘洪民 吴德馨 王孜
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 板级测试 IEEE 标准1149.1 光纤通信
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 71-73,77
• 页数: 4页
• 分类号: TN407|TN453
• 字数: 2414字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2003.01.020

摘要

讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴德馨	中国科学院微电子中心	58	345	11.0	14.0
2	王孜	中国科学院微电子中心	3	19	1.0	3.0
3	刘洪民	中国科学院微电子中心	7	69	5.0	7.0