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摘要:
文章首先分析了静态随机存储器(SRAM)6T存储单元结构的基本工作原理,总结了6T存储单元的优缺点并介绍了存储单元的重要参数静态噪声容限(SNM).在此基础上给出了一种基于实际深亚微米CMOS工艺的存储单元的设计方法,该方法的优势在于首先考虑单个读、写操作的限制,然后将多个限制因素综合在一起考虑,并通过三维曲线图形为仿真提供指导,以提高设计效率,缩短设计周期.最后给出了存储单元的晶体管参数并采用Hspice进行验证,仿真结果表明,采用这种方法设计出来的单元是稳定可靠的.
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文献信息
篇名 一种深亚微米SRAM 6T存储单元的设计方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 静态随机存储器 深亚微米 6T单元 静态噪声容限 仿真
年,卷(期) 2009,(10) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 22-25
页数 4页 分类号 TN402
字数 1941字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2009.10.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 唐明华 湘潭大学材料与光电物理学院 19 101 4.0 10.0
2 蒋波 湘潭大学材料与光电物理学院 47 45 4.0 5.0
3 王勇 湘潭大学材料与光电物理学院 41 144 5.0 11.0
4 张新川 湘潭大学材料与光电物理学院 4 12 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
静态随机存储器
深亚微米
6T单元
静态噪声容限
仿真
研究起点
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研究分支
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电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
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