粘结材料对TCBGA封装组件弯曲可靠性的影响

• 作者: 史洪宾 吴金昌 唐帆
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 薄基板球栅阵列封装 粘结材料 弯曲可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 58-61
• 分类号: TM277
• 字数: 2856字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2010.08.017

摘要

采用三点弯曲试验,测试了十组使用不同粘结材料及不同粘接方式的薄基板球栅阵列封装(TCBGA)组件和一组未使用粘结材料的组件的弯曲可靠性.结果表明,这些粘结材料均不同程度地提高了组件的弯曲可靠性.不同粘接方式对弯曲可靠性影响不同,其中边沿绑定粘接方式效果最佳,相对于无粘结材料,对组件所能承受的最大主应变、位移和荷载分别增加了41.73%,40.86%和37.50%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金昌		9	24	3.0	4.0
2	史洪宾		5	12	2.0	3.0
6	唐帆		1	2	1.0	1.0