一种片上可测试FLASH存储器的设计

• 作者: 唐彩彬 张正璠 杨晓刚 柳沐璇
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: FLASH 接口 SoC 可测试性
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 电路与系统设计
• 页码范围: 237-240
• 分类号: TN492
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种片上FLASH存储器的设计与实现.通过对FLASH IP接口功能及时序的分析,实现了特定FLASH的控制逻辑;对FLASH增加了片外测试接口,便于片外测试.仿真结果表明,该设计可实现对FLASH的操作与片外测试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柳沐璇	江南大学物联网工程学院	2	5	2.0	2.0
2	唐彩彬	江南大学物联网工程学院	2	5	2.0	2.0
3	张正璠	江南大学物联网工程学院	17	94	6.0	9.0
5	杨晓刚	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	2	1.0	1.0