PIND试验条件对集成电路性能影响的研究

• 作者: 张国华 杜迎
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 加速度 频率 振动时间
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 37-40,44
• 页数: 5页
• 分类号: TN43|TN406
• 字数: 2988字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.08.010

摘要

PIND试验可以改变的试验条件有冲击加速度、振动加速度、振动时间和试验次数.将这些条件分成四种方案进行试验,通过器件的内引线键合拉力值和电源电流值的变化来反映该条件对器件的影响.然后从理论上对试验条件的影响做了研究,最后对数据进行分析,得出了影响器件最大的条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜迎	中国电子科技集团公司第五十八研究所	18	93	6.0	8.0
2	张国华	中国电子科技集团公司第五十八研究所	17	60	5.0	6.0