基于加速退化晶体管贮存寿命的评估

• 作者: 吕长志 张小玲 谢雪松 赵伟 赵利 陈成菊 齐浩淳
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 加速退化试验 晶体管 恒温恒湿 Peck模型 贮存寿命
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 551-555
• 分类号: TN322.8|TN306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2013.07.015

摘要

为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究.通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命；给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命.最后分析了试验样品性能参数退化的原因.试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕长志	北京工业大学电子信息与控制工程学院	60	471	12.0	18.0
2	谢雪松	北京工业大学电子信息与控制工程学院	66	554	14.0	20.0
3	张小玲	北京工业大学电子信息与控制工程学院	69	447	11.0	18.0
4	陈成菊	北京工业大学电子信息与控制工程学院	6	35	4.0	5.0
5	赵利	北京工业大学电子信息与控制工程学院	5	31	4.0	5.0
6	齐浩淳	北京工业大学电子信息与控制工程学院	4	27	3.0	4.0