ED-XRF法快速测定大米中镉元素的实用性分析

• 作者: 余正东 吴敏 张辉 李强 查道平
• 来源期刊: 食品工业
• 关键词: XRF 大米中镉含量 快速检测 定量限
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 259-263
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

长期食用镉含量超标的大米是-个严重的健康问题,特别是以大米为主食的产米地区的消费群体.因此,大米中镉元素的快速检测成为目前人们关注的焦点.介绍一种能量散射X射线荧光光谱(ED-xRF)快速测试方法:对稻谷进行简单预处理(脱壳和粉碎),用XRF光谱仪直接测定米粉中的镉元素,分析了仪器的检出限(LOD)、方法定量限(LQD)、准确性、台间差、稳定性等性能.方法检出限为0.030mg/kg,定量限为0.14mg/kg,完全满足GB2762-2005食品中污染物限量标准(＜0.20 mg/kg);准确性、台间差、稳定性等性能测试结果完全符合GB/T 4889--2008数据的统计处理标准.且该方法预处理时间不超过2min,完成一个样品的检测时间不超过15 min,该方法能够满足大米中镉元素的快速检测需求.