交流陶瓷电容器早期失效的研究

• 作者: 孙芳民 孙芳霞
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 交流陶瓷电容器 早期失效 抗电强度
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 所属期刊栏目: 新工艺新技术
• 页码范围: 199-202
• 页数: 4页
• 分类号: TM5
• 字数: 4297字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.1999.05.008

摘要

分析了交流陶瓷电容器早期失效的原因,论述了在工艺上提高介质抗电强度的方法,提出了早期失效产品的筛选方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙芳民		2	1	1.0	1.0
2	孙芳霞		2	1	1.0	1.0