集成电路测试技术与应用

• 作者: 史文 张晓黎 田延军 谷健
• 来源期刊: 中国惯性技术学报
• 学科: 交通运输
• 关键词: 集成电路 测试 应用
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术与设备
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: U666.1
• 字数: 3470字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-6734.2002.01.013

摘要

通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谷健		6	24	2.0	4.0
2	田延军		1	20	1.0	1.0
3	史文		2	27	2.0	2.0
4	张晓黎		1	20	1.0	1.0