基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术

• 作者: 王宁 董兵
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 非完全BS电路板 测试性优化设计
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2493字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2005.12.013

摘要

由BS器件和非BS器件组装的非完全BS电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,如何对它们应用边界扫描测试是板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题.本文从非完全BS电路板的测试性优化设计入手,举例说明了基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术的原理和过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宁		8	43	3.0	6.0
2	董兵		9	32	2.0	5.0