基于边界扫描的逻辑簇测试诊断软件开发

• 作者: 王宁
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 测试 逻辑簇
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 276-279
• 页数: 4页
• 分类号: TP319
• 字数: 2525字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.04.012

摘要

在边界扫描测试技术中,由非BS器件组成的逻辑簇的测试是难点问题.介绍了一种逻辑簇测试诊断软件的原理、过程和应用,并通过实例验证了其有效性与可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宁		8	43	3.0	6.0