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SMT中焊点形状对焊点可靠性的影响
SMT中焊点形状对焊点可靠性的影响
作者:
吴中伟
张宁
林健
雷永平
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子技术
表面组装技术
焊点形状
热疲劳寿命
有限元方法
摘要:
根据SMT SnPb焊料焊点在热疲劳过程中的受载特点,采用有限元方法,建立了用于预测该种类型焊点热疲劳寿命的数值模型,并借热疲劳试验验证了模型的有效性.结果表明:热疲劳试验中,焊盘(焊盘1)伸出较短的SMT焊点在1440~1 680周期之间发生大量破坏,且其热疲劳寿命要低于焊盘(焊盘2)伸出较长的焊点,这与有限元模拟预测的寿命结果基本一致.进而采用该模型研究了焊点形状对其热疲劳寿命的影响规律,在一定条件下,其结果可应用于无铅焊料.
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文献信息
篇名
SMT中焊点形状对焊点可靠性的影响
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
电子技术
表面组装技术
焊点形状
热疲劳寿命
有限元方法
年,卷(期)
2008,(2)
所属期刊栏目
可靠性
研究方向
页码范围
60-64
页数
5页
分类号
TG40
字数
4281字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2008.02.020
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
雷永平
北京工业大学材料学院
195
2089
23.0
35.0
2
林健
北京工业大学材料学院
53
267
10.0
13.0
3
张宁
北京工业大学材料学院
23
374
8.0
19.0
4
吴中伟
北京工业大学材料学院
13
78
6.0
8.0
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引证文献(0)
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引证文献(0)
二级引证文献(7)
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引证文献(1)
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二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
电子技术
表面组装技术
焊点形状
热疲劳寿命
有限元方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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