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摘要:
对前期工作中使用Crosslight APSYS软件模拟的6种优化电极的GaN基InGaN/GaN多量子阱蓝光LED芯片进行试制并测试分析,将实验结果与软件模拟结果进行比较,并进行可靠性分析.结果表明,优化电极的实验结果和软件模拟结果基本吻合,优化电极的光学、电学等特性的确有明显改善,芯片出光效率也有提升.对称型指形在光通量、光效和电压(电流为20mA)等方面在这6种电极中最优;旋转形电极的寿命在预测中最高,为37000h,对称型指形位居第二;老化对优化电极的影响与未优化电极相差不多,所以综合考虑,对称型指形的性能最优.
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文献信息
篇名 GaN基不同电极形状的LED性能比较
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 GaN 电极形状 发光二极管 寿命 光电性能
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 177-181,193
页数 分类号 TN312.8|TN304.23
字数 3011字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.03.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王书昶 扬州大学物理科学与技术学院 8 21 3.0 4.0
2 林岳明 6 36 3.0 6.0
3 张俊兵 扬州大学物理科学与技术学院 6 39 4.0 6.0
4 金豫浙 扬州大学物理科学与技术学院 4 15 3.0 3.0
5 曾祥华 扬州大学物理科学与技术学院 57 143 6.0 10.0
6 董雅娟 扬州大学物理科学与技术学院 3 12 2.0 3.0
传播情况
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GaN
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寿命
光电性能
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半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
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18-65
1976
chi
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