基于概率模型的QCA触发器可靠性研究

• 作者: 李政操 杨晓阔 蔡理 黄宏图
• 来源期刊: 固体电子学研究与进展
• 学科: 工学
• 关键词: 量子元胞自动机 时序逻辑电路 触发器 概率转移矩阵 可靠性 元胞缺陷
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 器件物理与器件模拟
• 页码范围: 126-130
• 分类号: TN406
• 字数: 1874字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3819.2012.02.006

摘要

通过将时序逻辑电路中的反馈回路打开,在原有电路结构的基础上增加一路输入,采用概率转移矩阵方法建立了基于QCA的RS触发器、D触发器、JK触发器的可靠性模型,深入研究了各组成元件对其可靠性影响的差异,从而为其可靠性的提高提供了依据,这对于高缺陷率的QCA电路的可靠性设计具有重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨晓阔	空军工程大学理学院	45	108	6.0	8.0
2	蔡理	空军工程大学理学院	136	382	8.0	11.0
3	李政操	空军工程大学理学院	12	35	4.0	5.0
4	黄宏图	空军工程大学理学院	14	47	5.0	6.0