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摘要:
基于JBS整流二极管理论,详细介绍了一种Si基JBS整流二极管设计方法、制备工艺及测试结果.在传统肖特基二极管(SBD)有源区,利用光刻和固态源扩散工艺形成掺硼的蜂窝状结构,与n型衬底形成pn结,反向偏置时抑制了因电压增加引起的金属-半导体势垒高度降低,减小了漏电流;采用离子注入形成两道场限环的终端结构,有效防止了边缘击穿,提高了反向击穿电压.对制备的器件使用Tektronix 370B可编程特性曲线图示仪进行了I-V特性测试,结果表明本文设计的Si基JBS整流二极管正向压降VF =0.78 V(正向电流IF=5A时),反向击穿电压可达340 V.
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内容分析
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文献信息
篇名 Si基JBS整流二极管的设计与制备
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 Si基JBS整流二极管 功率肖特基二极管 蜂窝状结构 I-V特性 场限环
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目 新型半导体器件
研究方向 页码范围 180-183
页数 分类号 TN313.5
字数 2438字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2012.03.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘肃 兰州大学微电子研究所 68 261 9.0 11.0
2 王一帆 兰州大学微电子研究所 5 18 3.0 4.0
3 王朝林 兰州大学微电子研究所 3 14 2.0 3.0
4 岳红菊 4 13 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
Si基JBS整流二极管
功率肖特基二极管
蜂窝状结构
I-V特性
场限环
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
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