一种提高分段式DAC线性度测试效率的方法

• 作者: 夏达方 张科峰 陈晓飞
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数模转化器(DAC) 微分非线性 积分非线性 简码测试 全码测试
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 554-558
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.07.015

摘要

随着数模转化器(DAC)位数的增加,模拟量的步进值越来越小,数字万用表的精度和负载电阻的热效应成为影响DAC线性度测量的重要因素.基于分段式电流舵DAC的结构,结合其二进制和温度计译码电路的特点,从理论上提出了一种使用简码测试线性度的方法,并以一款分段式10 bit DAC为例,分别采用简码和传统的全码方法验证了它的微分非线性DNL与积分非线性INL.结果表明,简码测试和全码测试得到的DNL与INL曲线趋势一致,但简码测试效率高,仅占全码测试周期的1/8;另外简码测试减小了负载电阻温漂引入的误差,因此相比全码测试线性度的性能提高了0.1～0.2 LSB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张科峰	华中科技大学光学与电子信息学院	31	146	6.0	10.0
3	陈晓飞	华中科技大学光学与电子信息学院	28	239	10.0	14.0
4	夏达方	华中科技大学光学与电子信息学院	1	3	1.0	1.0