DSP处理器单粒子翻转率测试系统的研制

• 作者: 蒋炯炜 薛海卫 郭刚 雷志军 雷志广
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: DSP处理器 单粒子效应(SEE) 测试系统 抗辐照 单粒子翻转率 现场可编程门阵列(FPGA)
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 73-79
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2019.01.012

摘要

航天器及其内部元器件在太空中会受到单粒子效应(SEE)带来的威胁,因此航天用电子器件在装备前必须进行抗SEE能力的测试评估.针对传统测试方法存在的测试系统程序容易在辐照过程崩溃、统计翻转数不准确、单粒子闩锁(SEL)辨别不清晰和忽略内核翻转统计等问题,设计了一种测试系统,通过片外加载与运行程序从而减少因辐照导致片内程序异常的现象;通过片外主控电路统计被测电路翻转数使统计翻转结果准确;通过主控电路控制被测电路时钟供给排除因频率增加导致电流过大而误判发生SEL的情况;通过内核指令集统计内核翻转数.实验结果表明,该测试系统可以实时全面地监测数字信号处理器(DSP)的SEE,并有效防止辐照实验器件(DUT)因SEL而失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛海卫	中国电子科技集团公司第五十八研究所	12	23	3.0	4.0
2	雷志广		6	16	3.0	3.0
3	郭刚		34	65	4.0	7.0
4	雷志军	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	0	0.0	0.0
5	蒋炯炜	中国电子科技集团公司第五十八研究所	4	4	1.0	2.0