通用微系统组件测试与知识系统设计实现

• 作者: 孙毅 杨丹丹 陈忠睿 黄禹铭
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微系统组件 自动测试 数据库 知识库
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 微系统技术
• 页码范围: 207-209,236
• 页数: 4页
• 分类号: TN605
• 字数: 2426字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2019.04.006

摘要

介绍了为实现小批量多品种微系统组件的通用测试,并在测试过程中提供相关知识帮助调试开发的通用测试与知识系统.通过对微系统组件测试指标和测试方法进行共性分析,将不同测试指标的仪器控制和测试方法封装成独立的测试模块.运用抽象类、数据库和条码扫描等技术使仪器具有可换性,测试项目可配置,测试仪器可自动设置,测试结果可自动判定,测试工序有帮助,实现微系统组件的通用测试.通过知识系统的应用减少了自动测试系统的重复开发,降低了测试人员的要求,取得了良好的生产效益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨丹丹	中国电子科技集团公司第二十九研究所	7	10	1.0	3.0
2	孙毅	中国电子科技集团公司第二十九研究所	4	4	1.0	2.0
3	陈忠睿	中国电子科技集团公司第二十九研究所	4	6	1.0	2.0
4	黄禹铭	中国电子科技集团公司第二十九研究所	1	0	0.0	0.0