少子产生寿命计算机辅助测量及应用的研究

• 作者: 丁扣宝 宋加涛 张秀淼
• 来源期刊: 固体电子学研究与进展
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体 少子产生寿命 计算机辅助测量
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 87-91
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.07
• 字数: 2183字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3819.2001.01.015

摘要

研究了半导体材料少子产生寿命的计算机辅助测量，设计了相应的产生寿命C-t瞬态测量系统，能实现从阶跃信号产生直到测量结果输出全过程的自动化，提高了测量速度和准确度。应用于传统的“Zerbst图”法，可在原理和数据处理两方面得到较大的改善。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁扣宝	浙江大学西溪校区信息与电子工程学系	18	85	6.0	8.0
2	宋加涛		6	27	2.0	5.0
3	张秀淼	浙江大学硅材料国家重点实验室	1	2	1.0	1.0