软磁盘产生漏脉冲和冒脉冲的原因分析

• 作者: 曾素琼
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 软磁盘 磁道 漏脉冲 冒脉冲 记录密度
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 新工艺新技术
• 页码范围: 256-259
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 3680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2002.06.007

摘要

对软磁盘产生漏脉冲的原因及其减少措施作了简单介绍,着重对软磁盘的冒脉冲的产生原因作了详细分析,并对软磁盘生产中怎么减少冒脉冲以提高产品合格率作了总结.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾素琼		52	188	7.0	10.0