SOC芯片设计与测试

• 作者: 戎蒙恬 谈颖莉
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单芯片系统 面向测试设计 面向制造设计 位失效图 自动测试设备
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 64-67，75
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 3629字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2004.06.020

摘要

SOC已经成为集成电路设计的主流.SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM.本文以-SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戎蒙恬		229	1198	15.0	22.0
2	谈颖莉		2	19	2.0	2.0