片式ZnO压敏电阻烧端工艺对限制电压比的影响

• 作者: 伍尚国 唐斌 祝忠勇 赖扬
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 片式ZnO压敏电阻器 烧端温度 保温时间 限制电压比 接触电阻
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 28-29
• 页数: 2页
• 分类号: TM546
• 字数: 789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2005.09.009

摘要

通过对烧端工艺中不同烧端温度以及保温时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器限制电压比的影响.结果表明:当烧端温度为850℃,保温时间15 min时,产品的限制电压比最小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐斌		8	11	2.0	2.0
2	祝忠勇		14	49	4.0	6.0
3	赖扬		1	1	1.0	1.0
4	伍尚国		1	1	1.0	1.0