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使用ATE自定制处理器和时序芯片降低测试成本
使用ATE自定制处理器和时序芯片降低测试成本
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摘要：
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自定制Nios处理器的FFT算法指令
知识产权核
快速傅立叶变换
自定制指令
Nios嵌入式处理器
基于ATE的LVDS芯片测试技术
低压差分信号
自动测试设备
测试板
功能
直流参数
交流参数
基于PXI某处理器模块ATE设备的设计与实现
PXI平台
ATE设计
计量校准
基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术
卫星导航射频芯片
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期刊影响力
半导体技术
主办单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-353X
CN：
13-1109/TN
开本：
大16开
出版地：
石家庄179信箱46分箱
邮发代号：
18-65
创刊时间：
1976
语种：
chi
出版文献量（篇）
5044
总下载数（次）
38
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