瞬变电压抑制器失效模式和失效机理研究

• 作者: 贾颖 黎明秀
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 瞬变电压抑制器 筛选 可靠性 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 1024-1027
• 页数: 4页
• 分类号: TN306|TN31
• 字数: 3126字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.11.022

摘要

由于目前对TVS自身可靠性的研究较少,提出了对TVS产品的可靠性研究.这项研究得到国内TVS生产厂家的支持,对该厂6个型号TVS筛选进行了跟踪.根据筛选失效数据,对温度循环、箝位冲击、高温反偏和功率老炼等TVS失效比例较大的筛选项目的失效品,经过电参数测试、解剖、显微观察,确定失效模式、分析失效机理.结果表明,TVS主要失效模式有短路、开路、反向漏电流大和异常击穿,且高击穿电压TVS更易发生失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾颖	北京航空航天大学可靠性工程研究所	10	85	5.0	9.0
2	黎明秀	北京航空航天大学可靠性工程研究所	2	22	2.0	2.0