模拟电路的振荡测试技术

• 作者: 杨士元 王红 胡庚
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 模拟电路 振荡测试
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 趋势与展望
• 页码范围: 845-849
• 页数: 5页
• 分类号: TN45
• 字数: 2755字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.10.001

摘要

集成电路设计和制造技术的发展给电路测试带来了巨大的挑战,其中模拟电路的测试是电路测试的难点.目前在这一领域有许多致力于降低测试难度,节约测试成本的研究.介绍了一种称为"振荡测试"的模拟电路测试技术,从振荡电路的构造、测试响应的测量和分析等方面综述了振荡测试技术的研究现状,同时总结了振荡测试技术的优点,分析了当前存在的局限性,并对将来的发展进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士元	清华大学自动化系	124	1303	17.0	30.0
2	王红	清华大学自动化系	52	388	11.0	18.0
3	胡庚	清华大学自动化系	8	82	5.0	8.0