基于LSSVM的小子样元器件寿命预测

• 作者: 姚若河 邹心遥
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命预测 最小二乘支持向量机 元器件 小子样 失效时间
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 封装、检测与设备
• 页码范围: 730-733
• 分类号: TN306
• 字数: 3532字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.09.018

摘要

现代高可靠元器件在寿命试验时会出现失效数据很少的小子样情形,而传统的可靠性评估方法需要大量的失效数据,针对此情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于最小二乘支持向量机的小子样元器件寿命预测方法.该方法通过建立最小二乘支持向量机模型,从而可根据已知元器件的失效时间去直接预测同一批未失效元器件的失效时间.将该方法应用于热载流子效应引起MOS管退化失效的加速寿命试验中进行MOS管失效时间的预测,结果表明基于最小二乘支持向量机的寿命预测方法在进行小子样元器件的寿命预测时具有很高的精确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚若河	华南理工大学电子与信息学院	126	611	11.0	18.0
2	邹心遥	广东农工商职业技术学院电子与信息工程系	22	83	4.0	8.0