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摘要:
利用VL020真空烧结炉,选用In焊料对半导体激光器芯片的焊接技术进行较为深入的研究,分别对焊接时气体保护、焊接前期芯片、热沉的处理、真空工艺过程压力的施加、夹具设计和烧结工艺曲线等因素进行实验分析.结果表明,以上参数对半导体激光器芯片的焊接均有显著的影响,在N2/H2体积分数为95%/5%气体的保护下,通过对夹具施加适当的静压力,In焊料与Au能够充分和快速润湿,实现较高的焊接质量.蔡司显微镜检测结果表明,采用焊接技术可以使半导体激光器芯片具有较低的空洞率,高达90%以上的焊透率,其焊接过程主要通过夹具装配完成,人为影响因素少,成品率高,并适用于小批量生产.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 VL020回流炉中半导体激光器芯片In焊接研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 半导体激光器芯片 In焊接 空洞率 真空烧结 烧结工艺
年,卷(期) 2012,(6) 所属期刊栏目 先进封装技术
研究方向 页码范围 474-478
页数 分类号 TN365
字数 3253字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2012.06.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘云 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 99 706 15.0 23.0
2 张志军 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 22 77 5.0 8.0
6 张金龙 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 23 188 8.0 13.0
7 李爱社 广州大学机械工程系 9 41 4.0 6.0
8 单肖楠 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 13 57 4.0 7.0
9 黄海华 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 1 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
半导体激光器芯片
In焊接
空洞率
真空烧结
烧结工艺
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
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18-65
1976
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