应用于电子器件红外探测的发射率修正误差分析

• 作者: 何小琦
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外热像 发射率 温度
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 179-180，182
• 页数: 3页
• 分类号: TN65
• 字数: 1676字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2001.04.011

摘要

器件表面温度是表征器件热性能的重要参数，应用红外热像法探测表面温度时，影响其测量结果准确性的关键因素是表面发射率的修正，通过对红外热像法发射率直接修正误差的统计分析，给出了不同条件下的发射率修正值标准差δ、误差ε的范围，提出了应用于电子器件的最小误差探测条件。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何小琦		26	170	9.0	11.0