一种新型高低温老化房

• 作者: 张国琦 曹捷
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 老化 模糊智能 闭环控制
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: SMT/PCB
• 页码范围: 253-255
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 字数: 2320字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2002.06.006

摘要

介绍了一种适合电子产品进行高低温老化实验的新型装置,列出了该装置的原理及主要技术参数,并对实验测试结果进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹捷	中国科学院西安光机所	8	37	3.0	6.0
2	张国琦	中国科学院西安光机所	7	16	3.0	4.0