通信类SoC测试方案--Base Band

• 作者: 小圆祐一 川端雅之 徐勇 浅见幸司 魏炜
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TN7
• 字数: 2221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.03.018

摘要

本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的.为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD)、以及超高速任意波形发生器(GSAWG)上的所实现了的结构和新近采用的技术.另外,这里也说明了关于利用这些技术进行测试的例子.