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摘要:
以石英片为基底,采用直流/射频磁控共溅射法制备了掺A、掺Ti的V02薄膜.对所制样品进行了电阻-温度关系、原子力显微镜、透射光谱等光电性能测试.结果分析表明,Al元素可以提高薄膜相变温度及Ti元素可以有效提高相变前后电阻率变化幅度,并且用半导体能带理论对VO2薄膜光电性质改变的原因及掺杂对其造成的影响予以解释,提出了影响相变滞豫的原因及改善方法.最后对磁控共溅射沉积方法制备掺杂薄膜的工艺方法提出了改进.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 掺杂VO2薄膜的制备及其光电性质
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 二氧化钒薄膜 磁控共溅射 掺杂 光电特性 能带
年,卷(期) 2009,(2) 所属期刊栏目 技术专栏(新型半导体材料)
研究方向 页码范围 165-167,188
页数 4页 分类号 TN304
字数 2210字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2009.02.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨子健 兰州大学物理科学与技术学院 5 23 3.0 4.0
2 杨建红 兰州大学物理科学与技术学院 44 143 6.0 9.0
3 冯浩 6 26 4.0 5.0
4 崔敬忠 15 208 8.0 14.0
5 杨爱国 兰州大学物理科学与技术学院 3 17 3.0 3.0
6 李冠斌 5 36 4.0 5.0
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二氧化钒薄膜
磁控共溅射
掺杂
光电特性
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半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
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18-65
1976
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