单光子雪崩二极管探测系统测试与设计分析

• 作者: 周扬 白宗杰 陈世军
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单光子探测 雪崩二极管 淬火电路 暗计数 量子效率
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 775-779
• 分类号: TN312.7
• 字数: 3213字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.08.008

摘要

随着在弱光探测量子通讯领域研究的深入,光子探测逐渐成为国内外研究的热点.基于Si单光子雪崩光电二极管探测系统,介绍了系统相关性能参数以及相应的测试方法,对主要结构、性能指标和外界环境条件进行了综合性分析,总结并设计了一套完整的测试平台以及测试手段用于对单光子探测系统主要性能进行测试.测试平台采用主动与被动淬火电路两种方式对样品进行测试,结果表明了其相关参数与外偏置电压的非简单线性关系,与理论推理进行比较验证,并讨论了测试平台的优化方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈世军	中国科学院上海技术物理研究所	20	98	5.0	8.0
2	周扬	中国科学院上海技术物理研究所	28	403	10.0	20.0
3	白宗杰	中国科学院上海技术物理研究所	1	11	1.0	1.0