基于近红外光谱无损快速检测面粉品质的研究

• 作者: 刘翠玲 吴胜男 吴静珠 孙晓荣 索少增
• 来源期刊: 北京工商大学学报：自然科学版
• 学科: 工学
• 关键词: 近红外光谱 偏最小二乘法 面粉 滑石粉
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 食品检测与信息处理
• 页码范围: 68-70
• 分类号: TS207.3
• 字数: 1336字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1513.2011.04.017

摘要

提出一种基于近红外光谱技术结合偏最小二乘法对面粉品质进行无损快速检测的方法．配制含滑石粉的面粉样品30个，采集样品在12500～4000cm^-1范围内的近红外漫反射光谱，选择最优的光谱预处理方法和光谱范围，采用偏最小二乘法（PLS）建立定量分析模型．结果表明所建定量分析模型的相关性能比较高，预测相关系数和预测均方根误差均符合要求．研究发现，近红外光谱技术用于快速无损检测面粉掺假是可行的．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙晓荣	北京工商大学计算机与信息工程学院	79	396	10.0	15.0
2	刘翠玲	北京工商大学计算机与信息工程学院	119	568	11.0	17.0
3	吴静珠	北京工商大学计算机与信息工程学院	67	599	14.0	21.0
4	索少增	北京工商大学计算机与信息工程学院	8	55	5.0	7.0
5	吴胜男	北京工商大学计算机与信息工程学院	16	146	7.0	11.0