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摘要:
介绍了BGA焊接的一般方法,分析了BGA空洞产生的原因;针对高可靠应用场合需求,详细描述了一种可有效减少空洞发生的BGA低温焊接方法,并对采用这种方法焊接的BGA的焊点可靠性进行了分析.
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文献信息
篇名 一种BGA器件的低温组装工艺方法
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 BGA 回流曲线 可靠性 低温组装
年,卷(期) 2013,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 93-95
页数 分类号 TN605
字数 2931字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王玉龙 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 27 67 5.0 6.0
2 石宝松 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 14 60 5.0 7.0
3 孙守红 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 25 158 7.0 11.0
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研究主题发展历程
节点文献
BGA
回流曲线
可靠性
低温组装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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