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摘要:
提出了一种用于手机多模多频前端的射频单刀八掷(SP8T)天线开关设计,该开关采用绝缘体上硅(SOI)工艺实现.由于衬底电阻率高达1 000 Ω·cm,且在器件选取和电路结构设计方面采用了多种技巧,实测结果表明,该款开关的插入损耗在0~2.4 GHz频段内均小于1 dB,隔离度平均大于35 dB,功率处理能力也达到了36 dBm以上,完全满足设计需求.
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插入损耗
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 用于多模多频射频前端的单刀八掷SOI天线开关设计
来源期刊 固体电子学研究与进展 学科 工学
关键词 绝缘体上硅工艺 单刀八掷开关 插入损耗 隔离度 功率处理能力
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 射频与微波
研究方向 页码范围 65-68,100
页数 5页 分类号 TN820.8+3
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈磊 中国科学院上海高等研究院 65 345 10.0 15.0
2 赵鹏 中国科学院上海高等研究院 62 531 10.0 21.0
3 崔杰 中国科学院上海高等研究院 34 148 7.0 10.0
4 康春雷 中国科学院上海高等研究院 4 6 1.0 2.0
5 史佳 中国科学院上海高等研究院 5 8 2.0 2.0
6 牛旭 中国科学院上海高等研究院 3 0 0.0 0.0
7 刘轶 中国科学院上海高等研究院 3 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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2006(1)
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研究主题发展历程
节点文献
绝缘体上硅工艺
单刀八掷开关
插入损耗
隔离度
功率处理能力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
固体电子学研究与进展
双月刊
1000-3819
32-1110/TN
大16开
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东路524号)
1981
chi
出版文献量(篇)
2483
总下载数(次)
5
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9851
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