基于故障树的微波组件调测智能排故专家系统

• 作者: 史平怡 孙毅 肖玉林
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 故障树 智能排故 专家系统
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 微系统技术
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN60|TP278
• 字数: 3684字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2018.01.004

摘要

介绍了一种基于微波组件调试与测试过程故障分析的智能排故专家系统.通过对微波组件调测全流程排故信息采集整理的故障树分析,设计出一套实现智能排故的专家系统.通过模拟现场的CBB某微波组件实际案例进行测试,检验系统智能排故推理诊断的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙毅	中国电子科技集团公司第二十九研究所	4	4	1.0	2.0
2	史平怡	中国电子科技集团公司第二十九研究所	1	0	0.0	0.0
3	肖玉林	中国电子科技集团公司第二十九研究所	1	0	0.0	0.0