微波组件高低温性能预测式测试技术

• 作者: 侯奇峰 冯国彪 杨丹丹 秦跃利 郝立峰 陈忠睿
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波组件 高低温试验 数据分析 神经网络
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 微系统技术
• 页码范围: 318-321,341
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2020.06.003

摘要

高低温试验是微波组件生产中的重要环节,对微波组件生产周期具有很大影响.围绕提升微波组件高低温试验一次通过率,采用神经网络算法及测试曲线包络线提取法对常温测试数据及高低温试验数据进行分析,建立常温测试数据与高低温试验数据之间的映射关系模型或对应区间范围,并嵌入测试软件进行应用,对常温测试调试进行指导,以提升微波组件高低温试验一次通过率.结果表明:基于数据分析的高低温性能预测式测试具有可行性和应用潜力,为缩短微波组件生产周期提供了一种可选的新方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦跃利		5	20	2.0	4.0
2	杨丹丹		7	10	1.0	3.0
3	侯奇峰		1	0	0.0	0.0
4	郝立峰		1	0	0.0	0.0
5	陈忠睿		4	6	1.0	2.0
6	冯国彪		1	0	0.0	0.0