GaAs MESFET热特性电学法测量与分析

• 作者: 何大伟 冯士维 刘成名 吕长志 李道成 谢雪松
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 热阻 电学法 热响应曲线
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 器件研究与制造
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 2594字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.1999.01.008

摘要

采用快速脉冲技术,研制了GaAs MESFET热特性测试仪,并测量、分析了GaAs MESFET冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线.采用该方法,可在器件正常工作条件下,快速、非破坏性地测量分析器件的芯片、粘接及管壳各部分的热阻.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕长志	北京工业大学电子工程系	60	471	12.0	18.0
2	冯士维	北京工业大学电子工程系	59	438	12.0	18.0
3	谢雪松	北京工业大学电子工程系	66	554	14.0	20.0
4	何大伟		1	3	1.0	1.0
5	刘成名		1	3	1.0	1.0
6	李道成		1	3	1.0	1.0