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摘要:
提出了RESURF LDMOS功率器件的表面电场分布和击穿电压的解析模型.根据二维泊松方程的求解,得到了与器件参数和偏压相关的表面电场和电势分布解析表达式.在此基础上,推出了为获得击穿电压和比导通电阻最好折中的优化条件.该解析结果与半导体器件数值分析工具MEDICI得到的数值分析结果和先前的实验数据基本一致,证明了解析模型的适用性.
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文献信息
篇名 RESURF LDMOS功率器件表面场分布和击穿电压的解析模型
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 RESURF原理 LDMOS功率器件 表面场分布 击穿电压 比导通电阻 优化设计
年,卷(期) 2001,(9) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 1102-1106
页数 5页 分类号 TN386
字数 1530字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.09.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张兴 北京大学微电子学研究所 120 618 12.0 20.0
2 何进 北京大学微电子学研究所 24 84 5.0 8.0
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表面场分布
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比导通电阻
优化设计
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
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8
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35317
相关基金
国家重点基础研究发展计划(973计划)
英文译名:National Basic Research Program of China
官方网址:http://www.973.gov.cn/
项目类型:
学科类型:农业
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