国外半导体集成电路景气研究浅析

• 作者: 罗鄂湘 费伟彬 钱省三
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 景气
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 趋势与展望
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: F407.63|TN4
• 字数: 3129字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.11.005

摘要

分析研究了国外集成电路产业景气评价方法,希望能够对国内集成电路产业景气状况的分析工作提供一定的帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱省三	上海理工大学微电子发展研究中心	182	2387	26.0	41.0
2	罗鄂湘	上海理工大学微电子发展研究中心	58	386	11.0	17.0
3	费伟彬	上海理工大学微电子发展研究中心	2	5	1.0	2.0