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摘要:
通过对DX0231型BSIT栅源低击穿问题的分析,讨论了设计、材料、环境、设备等因素对表面栅BSIT栅源击穿的影响,指出了提高栅源击穿的努力方向.
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文献信息
篇名 表面栅BSIT的栅源低击穿问题研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 半导体 BSIT 工艺
年,卷(期) 2003,(10) 所属期刊栏目 支撑技术
研究方向 页码范围 78-81
页数 4页 分类号 TN605
字数 2533字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.10.023
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨银堂 420 2932 23.0 32.0
2 崔占东 10 29 3.0 5.0
传播情况
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
半导体
BSIT
工艺
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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