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摘要:
介绍了双面光刻对准原理及技术新发展,表明了不变焦对准的技术优势.针对玻璃基片设计了十字加方框的对准图样,经重新调焦,利用基片透明属性透过基片标记观测掩模标记实现对准,不再采用静态存储的掩模数字图像作为精对准基准,规避了可能由物镜侧移带来的对准误差.最后提供了几种常用的对准标记图样,并为了加工操作的便利引入了辅助搜索线.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 玻璃基片双面光刻对准工艺流程的研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 镀膜 双面光刻 双面对准 对准标记
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 制造技术
研究方向 页码范围 576-578
页数 3页 分类号 TH745.2|TN305.7
字数 1678字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.08.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴志华 中北大学电子与计算机科学技术学院 5 14 2.0 3.0
2 王海涌 北京航空航天大学航天制导导航控制系 29 230 9.0 15.0
传播情况
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引文网络
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2006(0)
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研究主题发展历程
节点文献
镀膜
双面光刻
双面对准
对准标记
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
论文1v1指导