微波晶体管测试夹具技术的研究

• 作者: 王弘英 王长河 高建军 默立东
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波晶体管 测试夹具 校准 自激 可靠性
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、检测与设备
• 页码范围: 635-638
• 分类号: TN307
• 字数: 2457字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2011.08.014

摘要

微波晶体管是无线通信、雷达等电子系统中的关键部分.由于其高频特性以及一般非50 Ω特性阻抗,准确评估其性能有较大的难度.晶体管大都为不同形式的表面贴装或表面安装器件,而目前微波测试系统基本上都是同轴传输系统,因此,就需要通过测试夹具完成对测试器件固定、馈电以及信号同轴传输转微带传输的功能.微波器件测试是保证器件质量和发展的关键手段,夹具制作技术对测试结果影响巨大,对微波晶体管测试夹具制作进行了研究,并提出了解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高建军		24	42	3.0	5.0
2	王长河	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	36	4.0	5.0
3	王弘英	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	17	3.0	3.0
4	默立东	中国电子科技集团公司第十三研究所	1	6	1.0	1.0