飞针测试在数字T/R组件检测中的应用

• 作者: 刘刚 房迅雷 蒋庆磊 邓威
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 在线测试 飞针测试 装配缺陷检测 数字T/R组件
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: SMT PCB
• 页码范围: 208-210,218
• 页数: 4页
• 分类号: TN606
• 字数: 2711字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2015.04.006

摘要

数字T/R组件具有品种多、数量大和集成度高等特点，如何高效和精准地完成数字T/R组件检测，是批生产过程中必须解决的问题。飞针测试具有测试开发高效、测试精度高和测试成本较低等优点，使之成为数字T/R组件检测的解决办法。针对数字阵列雷达中T/R组件检测的难点，介绍了飞针测试技术的原理及功能，结合典型产品阐述了飞针测试在某型数字T/R组件检测中的应用。飞针测试技术的使用显著提升了元件检测覆盖率，缩短测试开发和运行时间，在数字T/R组件批生产检测中具有重要应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘刚		29	182	8.0	12.0
2	邓威		2	6	1.0	2.0
3	蒋庆磊		5	26	3.0	5.0
4	房迅雷		6	78	3.0	6.0