自动光学检测在引线键合中的应用

• 作者: 闵志先 叶桢
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 关键词: 自动光学检测 引线键合 图像处理 质量提升
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 微组装技术 SMT PCB|MICRO-ASSEMBLY SMT PCB
• 页码范围: 195-197,213
• 页数: 4页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2021.04.003

摘要

在多芯片组件组装过程中,引线键合的自动光学检测存在背景图像复杂、跨尺度检测难度大和压点方向随机等问题.进行了光源参数和图像处理算法优化,通过键合球、引线和键合压点等三部分的分段检测,实现了自动光学检测技术在引线键合工艺中的应用.通过某型多芯片组件组装过程的检测得到数据,统计结果表明:与人工目检相比,检测效率提升了240％(离线生产),漏检率由200×10-6降至5×10-6以下,可有效降低目检操作者的劳动强度,可统计分析缺陷类型,为引线键合的工艺改进、质量提升和数字化生产提供了基础数据.