CMOS混合信号集成电路中的串扰效应

• 作者: 杨银堂 董刚
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号集成电路 串扰效应 设计技术
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: EDA技术专栏
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 3636字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2002.10.012

摘要

论述了混合信号集成电路中的串扰效应及其对电路本身的影响,重点讨论了在重掺杂衬底中数字干扰对模拟器件的影响,并给出了数字噪声注入等效电路.同时从制造工艺和设计技术方面讨论了降低串扰效应的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学微电子研究所	420	2932	23.0	32.0
2	董刚	西安电子科技大学微电子研究所	36	121	7.0	9.0