基于计数器实现的加法器自测试

• 作者: 于敦山 李兆麟 田泽 盛世敏
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 加法器 自测试 计数器 测试复用
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: TN79
• 字数: 1670字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2003.01.017

摘要

文章研究了行波进位加法器和先行进位加法器的测试向量生成,并基于计数器实现了这两种加法器的自测试.实验结果表明,所得的测试向量针对不同的目标工艺均可以实现被测加法器的100%故障覆盖率,且测试向量生成电路易扩展,能够实现测试复用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田泽	中国科学院微电子中心	3	2	1.0	1.0
2	于敦山	北京大学微电子学研究所	29	66	4.0	6.0
3	盛世敏	北京大学微电子学研究所	18	81	5.0	9.0
4	李兆麟	北京大学微电子学研究所	2	14	2.0	2.0