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金-硅共晶焊工艺应用研究
金-硅共晶焊工艺应用研究
作者:
原辉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
混合集成电路
芯片
共晶焊
摘要:
在混合集成电路中,对芯片的贴装多采用导电胶粘接工艺,但是由于其电阻率大、导热系数低和损耗大,难以满足各方面的要求;另一方面导电胶随着时间的推移会产生性能退化,难以满足产品30年以上长期可靠性的要求。而对于背面未制作任何金属化或仅仅制作了单层金的硅芯片又难以采用常规的焊接工艺进行贴装。介绍了一种硅芯片的贴装工艺金-硅共晶焊工艺,并对两种主要失效模式和工艺实施过程中影响质量的因素以及解决办法进行了论述。
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文献信息
篇名
金-硅共晶焊工艺应用研究
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
混合集成电路
芯片
共晶焊
年,卷(期)
2012,(1)
所属期刊栏目
微组装
研究方向
页码范围
18-20,37
页数
分类号
TN605
字数
3553字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-3474.2012.01.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
原辉
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传播情况
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二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
混合集成电路
芯片
共晶焊
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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