基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
改善反向击穿电压和正向导通电阻之间的矛盾关系一直以来都是功率半导体器件的研究热点之一.介绍了一种超结肖特基势垒二极管(SJ-SBD),将p柱和n柱交替构成的超结结构引入肖特基势垒二极管中作为耐压层,在保证正向导通电阻足够低的同时提高了器件的反向耐压.在工艺上通过4次n型外延和4次选择性p型掺杂实现了超结结构.基于相同的外延层厚度和相同的外延层杂质浓度分别设计和实现了常规SBD和SJ-SBD,测试得到常规SBD的最高反向击穿电压为110 V,SJ-SBD的最高反向击穿电压为229 V.实验结果表明,以超结结构作为SBD的耐压层能保证正向压降等参数不变的同时有效提高击穿电压,且当n柱和p柱中的电荷量相等时SJ-SBD的反向击穿电压最高.
推荐文章
高压4H—SiC肖特基二极管的模拟及研制
肖特基势垒二极管
结终端扩展
模拟
击穿耐压
实验
JTE结构4H-SiC肖特基二极管的研究
碳化硅
肖特基二极管
Silvaco
结终端扩展结构
6H-SiC高压肖特基势垒二极管
碳化硅
肖特基势垒二极管
6H-SiC
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 一种超结高压肖特基势垒二极管
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 肖特基势垒二极管(SBD) 击穿电压 超结结构 超结肖特基二极管(SJ-SBD) 功率器件
年,卷(期) 2014,(9) 所属期刊栏目 半导体器件
研究方向 页码范围 666-670
页数 分类号 TN312
字数 语种 中文
DOI 10.13290/j.cnki.bdtjs.2014.09.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 傅兴华 贵州大学贵州省微纳电子与软件技术重点实验室 57 181 8.0 9.0
2 丁召 贵州大学贵州省微纳电子与软件技术重点实验室 67 161 6.0 8.0
3 杨发顺 贵州大学贵州省微纳电子与软件技术重点实验室 54 125 5.0 8.0
4 马奎 贵州大学贵州省微纳电子与软件技术重点实验室 35 52 4.0 5.0
5 龚红 贵州大学人民武装学院 7 10 1.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2014(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
肖特基势垒二极管(SBD)
击穿电压
超结结构
超结肖特基二极管(SJ-SBD)
功率器件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
论文1v1指导